薄膜过问是指光线经由薄膜时发生的过问征象，普遍应用于光学薄膜、半导体振荡腔、薄膜质料的物理化学研究等领域。
在工业应用方面，薄膜过问可以用来监测薄膜的厚度和膜层的平均性。在半导体振荡器中，薄膜过问可以用来制成窄谐振子、集成光路器件等。此外，在太阳能电池中应用薄膜过问，可以提高太阳能的转换效率。
薄膜过问也是科学研究中的重要工具，它可以用来研究物质的光学、物理、化学性子。好比，可以行使薄膜过问手艺研究外面界面散射光谱、原子外面散射、薄膜吸附性子等。此外，薄膜过问还可以应用于生物医学领域，如细胞点状成像和生物分子检测等。
